Dage X光檢測設備 Q5
Quadra™ 5
Quadra™ 5 搭配行業領先的核心技術，在X光2D和3D檢測應用方面擁有更高的性能，且使用更容易。在標配功率10W范圍內都可以達到0.35μm的分辨率。系統可選配升級到20W的功率。這使得Quadra 5成為PCB和半導體封裝行業X光檢測的首選。
X光管類型：封閉穿透式
分辨率：0.35 μm(10W以內)，0.95 μm(20W以內)
最大功率：10W (可選升級到20W)
電壓范圍：30-160kV
像素數：300萬像素
幀速率：25 fps
像素間距：50 μm
數字圖像處理：16-bit
傾斜角度視圖：70°
主動減震：AxiS - 主動式X-ray 圖像穩定器
顯示分辨率(每英寸像素數)：94像素/英寸
最大檢測區域：20”×17.5”
最大樣品尺寸：29”×22.8”
最大幾何放大倍數：2,500×
最大總放大倍數：45,000×
最大樣品重量(標準推盤)：5kg(11 lbs)
顯示器：24" WUXGA單顯示器(分辨率1920×1200)固定在可完全靈活調整的支架上
選配項：
- 高功率升級(10W升級至20W) - X-Plane® 3D檢測分析系統
- 3D可視化(應用于X-plane) - μCT (3D檢測分析系統)
- 單搖桿或雙搖桿 - 過濾托盤
- 加熱平臺 - 基于模板的分析/CAD編輯
- 碳纖維樣品托盤 - 雙顯示器
Dage X光檢測設備 Q7
Quadra™ 7
X光管類型：封閉穿透式
分辨率：0.1 μm(10W以內)，0.3 μm(20W以內)
最大功率：20W
電壓范圍：30-160kV
像素數：670萬像素
幀速率：30 fps
像素間距：50 μm
數字圖像處理：16-bit
傾斜角度視圖：70°
主動減震：AxiS - 主動式X-ray 圖像穩定器
顯示分辨率(每英寸像素數)：185像素/英寸
最大檢測區域：20” × 17.5”
最大樣品尺寸：29” × 22.8”
最大幾何放大倍數：2,500×
最大總放大倍數：68,000×
最大樣品重量(標準推盤)：5kg(11 lbs)
最大樣品重量(碳纖維推盤)：樣品重量最大500g
顯示器：24" 4K超高清(分辨率3840×2160)雙顯示器，固定在可完全靈活調整的支架上
選配項：
- X-Plane® - 3D可視化(應用于X-plane)
- μCT (3D檢測分析系統) - 單搖桿或雙搖桿
- 過濾托盤 - 加熱平臺
- CAD輸入
FAB知識培訓
資料待添加。
封裝知識培訓
資料待添加。
FA知識培訓
資料待添加。
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