
超聲波掃描顯微鏡OKOS Vue400P
超聲波掃描顯微鏡,通常稱做SAM或者SAT是檢測離層、裂痕和其他缺陷必不可少的工具. 它不僅能檢測出缺陷,更能清楚的指出缺陷的位置.
OKOS設備和核心部件被廣泛應用于各種材料的無損檢測,包括半導體,汽車零件和其他先進元件。 公司擁有獨立開發的軟件,核心硬件和專利技術,這么多年來通過和客戶的不斷合作,實現了SAT技術的不斷創新和突破。
OKOS努力提供最準確的數據,完美的圖像質量,非凡的操作性和設備的高可靠性,從而為客戶提高效率,節約成本。
Vue400-P技術參數
設備模式 單探頭掃描,雙探頭掃描
超聲波掃描模式 A-Scan (點掃描)、B-Scan (截面掃描)、C-Scan、
Multi-Scan (多層掃描)、T-Scan (穿透式掃描)、
Tray-Scan (盤掃描)、Jump-Scan (跳躍掃描)、
HTS (高速掃描)、SALI-Scan(斷層顯微成象掃描)
最大分辨率 10000X10000像素
最大掃描區域 380mmX350mmX50mm(xyz)
最高掃描速度 1500mm/s
超聲波探頭頻率 10-220MHz
設備尺寸 860mm x 900mm x 1180mm(dwh)
OKOS 技術優勢
軟件:
獨立開發,基于Win10系統
可編程自動掃描
離線分析能力
SALI斷層成像掃描
先進的數據分析模式
FFT掃描模式
硬件:
雙探頭掃描模式
獨立開發設計的全球最高性能A/D board,頻率可以達到3GHz
獨立開發設計的定制探頭/傳感器
模塊化的設計

超聲波掃描顯微鏡OKOS VUE250P(桌面型)
OKOS VUE250P是為小型實驗室,研究所提供的桌上型超聲波掃描顯微鏡, 其設備能提供與VUE400P同樣準確的數據,完美的圖像質量,非凡的操作性和設備的高可靠性,從而為客戶提高效率,節約成本。
Vue250P技術參數
設備模式 單探頭掃描
超聲波掃描模式 A-Scan (點掃描)、B-Scan (截面掃描)、C-Scan、
Multi-Scan (多層掃描)、T-Scan (穿透式掃描)、
Tray-Scan (盤掃描)、Jump-Scan (跳躍掃描)、
HTS (高速掃描)、SALI-Scan(斷層顯微成象掃描)
最大分辨率 10000X10000像素
最大掃描區域 250mmX150mmX35mm(xyz)
最高掃描速度 500mm/s
超聲波探頭頻率 10-220MHz
設備尺寸 610mm x 640mm x 500mm(dwh)


Insidix 熱變形外貌檢測儀
Insidix公司,是法國著名的平整度特性測量,非破壞性測試提供全面解決方案的領導者,為全球微電子工業,半導體行業、及PCB(線路板生產)工業提供先進的基板及封裝測量解決方案。
INSIDIX TDM 運用Projection Moiré完美模擬Reflow狀態,實現平整度,共面性以及熱變型測量,得到樣品Warpage, Deformation,CTE Measure
TDM技術優勢
非接觸式雙面加熱, 上下表面溫差小
快速的升溫,降溫速率
完美的Reflow模擬
可同時測量warpage以及變形值, CTE等
可測量BGA ball以及leader共面性和變形值
測量精度高
可同時測量多個樣品
TDM主要技術參數
最大樣品尺寸: 600mmx 420mm
視場范圍: 10mmx10mm---400mmx400mm
視場深度: 40mm
溫度范圍: -60°C ~ +400°C
升溫速率: 最大6度每秒
降溫速率: 最大3度每秒
3Dcamera: 500萬像素
測量精度: +/-1micron or 2% of measured value

Dage X光檢測設備 Q5
Quadra™ 5
X光管設計在底部,通過等中心線設計操作平臺的移動和影像探測器的傾斜,所有的控制可通過軟件簡單的點擊操作完成,不需要搖桿操作。如此可實現產品的安全無碰撞檢測。所有的功能可以簡單快捷進行自動檢測,而不需要進行復雜的編程技術。另外可選配微CT功能。
參數
• Nordson DAGE NT500免換燈絲密封透射式X射線管:
電壓在30~160KV,標靶功率小于4W的狀態下,可達到0.5um的分辨率
標靶功率大于4W的狀態下,分辨率為0.95um
電壓在110KV以上是可達到最高10W 的標靶功率
自動穩壓光管
• 2,500 倍光學放大倍率 (5,200 倍系統放大倍率)
• 在數碼放大的情況下最高可達15,600倍
• 簡單,無碰撞,高放大倍率,高解析度檢測系統:
在傾斜角度下檢測同樣具備上述特點
無搖桿,鼠標點擊操作
• 最大樣品檢測尺寸:29” x 22.8” (736 x 580 mm)
• 最大檢尺寸:20” x 17.5” (508 x 444 mm)
• 達70度傾斜角檢測
測試點360度環繞旋轉檢測
等中心操作平臺結構保證了可視范圍內的影像分辨率。
• 使用壽命長的200萬像素(1600*1200像素比) CMOS數字探測器:
25幀/秒的全息”實時”影像成像系統
實時影像增強功能
• 16位數字影像處理系統
• 防震動控制處理
• 24” TFT LCD顯示器操作
• 防震動控制處理
• 24” TFT LCD顯示器操作
•可 配選項:微CT(3D檢測)、 X-Plane和雙顯示器
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